报名中 | 红外光谱技术在硅材料质控分析中的应用（英文）

2021-06-17 16:14 来源：布鲁克（北京）科技有限公司

会议邀请：

在许多应用领域，如可再生能源（光伏或氢气技术）、航空航天和电子领域，半导体（尤其是硅）是不可少的基础材料。为了保证高效率和产品质量，以杂质的识别和定量、缺陷的检测或光学器件的功能测试为形式的硅质量控制成为半导体工业中一项关键而艰巨的任务。

该系列网络研讨会分为两部分，在下周的第二场中，我们将向您介绍使用傅立叶变换红外光谱进行半导体质量控制的高灵敏度解决方案，欢迎届时参加。

主题：

High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

语言：英文（English）

时间：

第二场：6月21日（周一）晚上10点-11点

第二场（重播）： 6月22日（周二）下午3点-4点

（*以上为北京时间）

会议使用GOTOWEBINAR平台，由布鲁克德国红外应用专家主讲。

报名方式：

点击此处，填写报名信息，并点击“Register”提交。

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