光谱网技术文章列表

1.波长范围：选购时首要考虑因素，由分析样品和观察的属性或跃迁决定。光学光谱可测量可见光及附近波长，范围约190nm-1100nm，能观察共轭有机分子的特定能量跃迁。此外，红外和近红外光谱用于研究振动和转动跃迁。2.光源：不同光学测量需要不同光源，如吸光度光谱或漫反射测量需宽波长范围...

黑色冶金行业解决方案方案概述钢铁冶炼包括炼铁、炼钢、轧钢等诸多生产过程，冶炼过程使用可燃气体、惰性气等作为燃料或保护气体，同时也产生大量的过程气体。检测分析这些气体的含量，对优化生产、安全控制、能源回收、环保节能等具有非常重要的现实作用。方案构成●高炉喷煤安全分析TRT安全分析；●高...

德国亨士乐Hengstler1、编码器本身故障：是指亨士乐编码器本身元器件出现故障，导致其不能产生和输出正确的波形。这种情况下需更换亨士乐编码器或维修其内部器件。2、编码器连接电缆故障：这种故障出现的几率zui高，维修中经常遇到，应是优先考虑的因素。通常为亨士乐编码器电缆断路、短路或...

BFC8115LED防爆泛光灯的安装方式和适用场所可以归纳如下：安装方式BFC8115LED防爆泛光灯具有多种安装方式，包括但不限于座式、侧壁安装、吊杆安装、抱箍安装以及井架无损夹紧式路灯杆安装等，可以满足客户不同的现场安装要求。这些安装方式使得灯具能够适应各种复杂的环境和场景，确保...

前言在先进材料的生产中，需要对材料参数进行快速、准确且节省人力的测定。光学材料（特别是晶体）应用所需的主要参数之一是折射率(n)。常用的折射率测定方法有三种[1-3]：1)测角法利用测角仪-光谱仪测量一定角度下的透射（包括光的最小偏向角），并根据斯涅尔定律计算n。该方法需要呈大三棱镜...

HENGSTLER亨士乐RI80-E/1024E4D25IB-K0-G通孔增量编码器的特点标准空心轴光电增量编码器-RI80-E增量型输出20mm~45mm空心轴坚固的机械设计不破碎码盘宽电压范围：直流5V或10~30V脉冲数：250到10000应请求可提供更高脉冲数应用：齿轮传动电...

检测钢材化学元素成分含量的仪器主要包括以下几种：|仪器名称|价格范围|特点||---|---|---||XRF能量色散x射线荧光光谱仪|￥12.35万左右|便携式，适合现场操作||ICP光谱检测仪|￥26.9万左右|高精度，适合实验室使用||AFS原子荧光光谱仪|-|用于测定特定元素...

XRF（X射线荧光光谱仪）与ICP-OES（电感耦合等离子体发生光谱仪）是常见的成分分析设备，以下为你从多方面对比分析这两种仪器：基本原理-XRF：初级X射线与样品表面原子核外电子相互作用，发生能级跃迁后发射出特征X射线。由于每个元素的特征X射线能量和波长固定且固定，通过探测器探查样...

日本电色工业株式会社（NIPPONDENSHOKU）是一家在色彩测量仪器领域具有深厚技术积累和广泛市场认可的企业，其产品以高精度、多功能和用户友好设计著称，广泛应用于食品、化工、医药、汽车等多个行业。以下是日本电色的部分主要产品型号及其特点：1.ZE7700分光色差计高精度与稳定性：...

前言多色性（源自古希腊语πλέον«更多»+χρόμα«色彩»）是一种从不同角度观察透明晶体时会呈现不同颜色的光学现象[1]。有时颜色变化仅限于明暗变化，例如从淡粉色到深粉色[2]。晶体分为光学各向同性（立方晶系）、光学各向异性单轴（六方晶系、三角晶系、四方晶系）和光学各向异性双轴（...

水质监测对保护水资源至关重要。传统方法难以满足实时、全面监测的需求。高光谱成像技术以其高分辨率和丰富光谱信息，成为水质监测的新兴工具。高光谱概述高光谱成像通过获取物体在多个波段的反射光谱数据进行分析，提供详细的光谱特征，用于识别和定量分析水体成分。其原理是通过光谱传感器获取水体反射的...

激光闪光光解（纳秒瞬态吸收）、激光诱导荧光（LIF）系统01背景介绍在光化学、光物理及光催化研究领域，材料的激发态寿命、能量转移与电子传递过程是决定其性能的核心因素。传统瞬态吸收光谱技术存在时间分辨率不足、灵敏度低等问题，难以精准捕捉纳秒至毫秒时间尺度的动态过程，尤其对于弱信号体系（...

准费米能级分裂QFLS测试01背景介绍随着业内对清洁能源的需求不断增加以及光电器件技术的快速发展，太阳能电池及其他光电器件的性能优化成为研究热点。准费米能级分裂（Quasi-FermiLevelSplitting,QFLS）是衡量光电器件性能的关键参数之一，它反映了光照下非平衡载流子...

1.引言锂电池界面反应（如SEI膜形成、电解液分解、电极-电解液副反应等）是影响电池性能、寿命和安全性的关键因素。传统离线检测技术（如SEM、XPS）难以捕捉动态反应过程，而原位表征技术可实时监测界面演化，为揭示反应机理提供直接证据。红外光谱（IR）因对化学基团敏感、非破坏性及可实时...

前言高质量多层光学镀膜的制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学性能。传统方法通过两次单独的测量来实现：垂直入射透射率(T)，通常在分光光度计的样品室内进行测量，以及近法线反射率(R)测量，这需要使用单独的反射附件。由于在R和T测量之间的仪器配置变化期间样品重新定位，因此使用...