东谱科技光致发光量子效率测量系统HiYield-PL

产品关键词：噪声、探测器瞬态响应时间、探测器上升下降时间、比探测率D*、3dB、噪声等效功率NEP、线性动态范围LDR、响应度R、噪声频谱密度、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）暗电流、光电流、开关比、外部量子效率（EQE）、噪声电流、响应带宽3db截止频率

 HiYield-PL光致发光特性测量系统是东谱科技HiOE综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的电致发光特性测量系统HiYield-EL（请垂询销售专员）共同为行业提供了完善的发光样品测量方案。HiYield-PL系统由一系列相应的测量组件组成，包括激发光源、单色仪、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活建适用于不同类型样品的测量系统，也可以适应丰富的测量场景，如手套箱测量等。HiYield-PL测量系统具备以下主要功能：

1）采用PL法，结合积分球，准确测量发光样品的效率参数、辐射度参数、色度参数等；2）高灵敏度、高动态范围、高信噪比的测量；3）多种测量模式可供选择：单激发波长量子效率、激发波长依赖量子效率、量子效率稳定性测试；4）全自动一键测试。

HiYield-PL采用灵活的模块化设计，可以适合各种测量场景； 专业的研究级算法加持，精准得到PLQY数据； 整机紧凑，可置于手套箱进行氮气氛围测试； 可选配自动进样系统，减少人为操作失误，提高测量重复性；软件全自动流程化操作，一键测量所有参数。

测试功能包括量子效率、量子效率、光致发光量子效率、发光量子效率（PLQY）、内量子效率（IQE）、量子效率稳定性测试、激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比率。

其广泛应用于有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型PV材料OLED材料、LED荧光粉 、薄膜、粉末、液体等类型的光致发光样品。