压差技术与X射线荧光技术相结合，可分析机器故障的根本原因

       斯派超的这种分析系统，将机器故障的根本原因分析是通过将两步分析过程结合改进在一起实现的，其包括:压差技术与 XRF技术。这个相对快速的系统可以筛选具有高颗粒计数的样品，并对所得样品过滤器进行完整的13元素XRF分析。

        改进的孔阻塞技术被称为“压差法颗粒计数法”或FPQ。FPQ具有约30,000个直径为4um的孔的聚碳酸酯过滤器的注射器以恒定流速驱动3ml油液样品。根据测量的相对于大气压的穿过滤膜的压降，用于量化大于4um的每毫升高达百万的颗粒的数量。相对于常规孔堵塞仪器，这一设备主要是通过改进滤膜设计来实现的。这种新的双动态设计将测量范围提高了颗粒饱和率以上(x50).

       分析完成后，过滤的油液从FPQ传递到XRF设备。由于存在颗粒交换现象，FPQ和XRF在校准方面密切相关。FPQ和XRF仪器使用一系列的规则和校准，以确保高达每毫升1百万个颗粒的精确元素定量计数。这种技术与特殊过滤器相结合克服了XRF设备通常使用的油杯进行分析的问题。这种过滤器设计能够将颗粒输送到过滤器的小区域中，使得聚焦的X射线束可以将其能量集中在那些颗粒上。该仪器使用40kev和15kev来量化13个元素，平均检测限为一1ppm。