镀层测厚应用正比接收器比半导体探测器更实用辩论

　　随着科技发展，很多行业的检测需要，检测仪器也越来越多，各自都有各自的优势。我们对镀层测厚应用正比接收器比半导体探测器更实用来一场简单的辩论。接下来和一六仪器一起了解一下。

　　镀层测厚仪应用正比接收器：

　　1.在X荧光仪器镀层应用中，正比例接收器接收面积大，测试时间短、稳定性好;

　　2. 正比例接收器相对半导体探测器仪器射线管使用功率低，使用寿命更长;

　　3. 正比例接收器相比同等价位半导体探测器，能测好更小样品;

　　4. 正比例接收器镀层仪器，相比半导体探测器能测更高台阶的异型件;

　　5. X荧光仪器镀层测厚做的好的厂家主要配置都搭载正比例接收器;

　　半导体探测器：

　　1. 半导体探测器分辨率更高，更好区分开相邻元素的干扰;

　　2. 首饰贵金属镀层行业半导体探测器检测的准确率更好;

　　3. 半导体探测器有效计数率更高，对于稍大的产品测试稳定性及准确性更高;

　　4. 半导体探测器检出限更低，检测超薄镀层膜厚效果更好;

　　5. 半导体探测器仪器不仅能测镀层，还能检测合金成分、RoHS环保检测，可以一机多用且精检精测;

　　总结：镀层测厚应用正比接收器与半导体探测器各有各的优势，不能说哪个好，也不能说哪个不好。重要的是每个仪器都有自己适合的检测范围，仪器可以满足消费者需求的我姐的都是不错的仪器。

　　以上就是一六整理分享的关于镀层测厚应用正比接收器比半导体探测器更实用辩论。希望可以帮助大家根据产品优势勾选到心仪的仪器。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。