理学波长色散型X射线荧光光谱仪的应用领域
2022年11月07日 09:27
来源:广州仪德精密科学仪器股份有限公司
日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。
X射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为相关生产企业提供了一种检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法,XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等优点,适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
日本理学波长色散X射线荧光光谱仪是一种扫描型荧光X射线分析仪,具有上照射类型。支持测量和分析,即使初学者也能轻松获得准确的分析结果。数字计数系统、高速驱动测角仪和优化的控制系统可实现高速、高精度测量。通过人工多层累积膜和真空控制机制,可以测量*轻元素。高规格型号还配备了安全可靠的设计,如人为错误预防功能、点映射分析和散射线SQX功能。
日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪应用领域:
地质样品领域:针对地质领域压片和熔片两类样品分别开发了应用方法体系,可以为地质研究、找矿提供可靠的检测数据。
建材样品领域:针对多种建材样品的分析需求,建立了水泥、涂料等样品应用方法体系,实现对样品的高精度分析。
新材料样品领域:能够解决新材料研究领域宽幅、无损、全元素分布分析的难题。
关键词:
日本理学光谱仪
免责声明
- 凡本网注明“来源:化工仪器网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-化工仪器网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其他方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:化工仪器网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源(非化工仪器网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。