金贝尔分享:FT-IR用于碳化硅(SiC)研究、开发和质量控制
2022年04月01日 09:16
来源:天津市金贝尔科技有限公司
SiC与其他半导体材料的性能比较
在SiC材料的研究与开发中,傅立叶变换红外光谱技术(FT-IR)是一种简单而有效的研究其各种性能的工具。它可以用于测定掺杂浓度、外延层厚度或声子光谱,对晶体结构和质量提供有价值的信息。基于傅立叶变换红外的光致发光光谱技术(FT-PL)可以提供额外的信息,如能带结构和电荷载流子的细节。透射光谱技术可以研究半导体的带隙、激子和其他电子特性。此外,碳化硅杂质和缺陷分析也是材料开发和质量控制的重要步骤。
关键词:
德国布鲁克,傅立叶红外光谱仪,天津金贝尔
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