光致发光量子效率PLQY测量系统

在材料科学与光电器件研发的前沿领域，光致发光量子效率（PLQY）的精确测量对理解材料光学特性、优化光电器件性能意义重大。光致发光现象广泛存在于有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型 PV 材料、OLED 材料、LED 荧光粉等多种材料中。随着这些领域的飞速发展，对光致发光量子效率测量的准确性、高效性和灵活性提出了更高要求。传统测量设备在面对复杂多样的测量场景和高精度测量需求时，往往难以满足。东谱科技凭借深厚的技术积累和对市场需求的敏锐洞察，推出了光致发光量子效率测量系统 HiYield - PL，为行业带来全新解决方案。

（一）原理

光致发光（Photoluminescence 简称 PL），是指物体在受到外界光源照射时，获得能量，受激发光的现象，也指物质吸收光子（或电磁波）后重新辐射出光子 (或电磁波) 的过程。在量子力学理论中，这一过程可描述为物质吸收光子跃迁到较高能级的激发态后返回低能态，同时放出光子。

（二）技术特点

HiYield - PL 采用灵活的模块化架构，可根据不同测量场景和用户需求定制化配置。无论是科研机构的基础研究，还是企业的大规模生产检测，都能精准适配，确保在各种复杂条件下稳定、高效地获取 PLQY 数据。

为减少人为操作误差，提高测量重复性，该设备可选配自动进样系统。该系统能按预设程序自动完成样品的装载、定位和测量，极大提高测量效率和数据可靠性。

配备自动化软件，实现一键测量所有参数的功能。软件具备直观操作界面和智能化数据处理能力，操作人员无需复杂培训即可轻松上手，大大缩短测量周期。

（三）技术优势

HiYield - PL 在设计上充分考虑抑制各种干扰因素，采用高灵敏度探测器和精确光学系统，能实现对光致发光量子效率的高精度测量，为科研和生产提供可靠数据支持。HiYield - PL可适用于薄膜、粉末、液体等多种形态的光致发光材料，涵盖从有机到无机的各类材料体系，满足不同用户在不同领域的多样化测量需求。设备具备快速的数据采集和处理能力，能在短时间内完成大量样品的测量和分析，有效提高工作效率，尤其适用于大规模生产线上的质量控制和研发过程中的快速筛选。

（四）技术功能解释

HiYield - PL能准确测量材料的发光量子效率，即发射光子数与吸收光子数之比，同时还可对内量子效率精确评估，为深入研究材料发光机制提供关键数据。

可测量激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比等多种效率参数，全面反映材料在不同激发条件下的性能变化，有助于用户深入了解材料光学特性。

涵盖光谱功率分布、辐射通量、光子数、光通量、光视效能、峰值波长、中心波长等参数的测量，为材料光学性能评估提供丰富维度。

能精确测量 CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK - 1（mired）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等色度学参数，满足光电器件在颜色特性方面的测量需求。

可实时监测 PLQY - t、λ - t、Radiance - t、Lumen - t、K - t、CIE - t、CCT - t、CRI - t 等衰减参数，为研究材料稳定性和寿命提供重要依据。（插入衰减参数随时间变化的曲线示例图，标注横坐标为时间，纵坐标为不同衰减参数，解释曲线变化反映的材料稳定性和寿命信息）