高精度、全光谱量子效率测量系统

随着能源转型加速和半导体技术的飞速发展，光伏电池及高效半导体器件的研发对材料性能测试提出了更高要求。电致发光（Electroluminescence, EL）量子效率（Quantum Efficiency, QE）作为评估材料光电转换效率的核心指标，直接关系到太阳能池、LED、激光器等器件的性能优化与产业化进程。然而，传统 EL 测量设备普遍存在灵敏度不足、光谱范围受限、测试速度慢等问题，难以满足新型材料（如钙钛矿、InGaN/GaN 异质结）的高精度分析需求。

东谱科技作为国内光电测试仪器领域的企业，推出全新一代 HiYield-EL 电致发光量子效率测量仪，以创新的光学设计、智能化分析算法和全光谱覆盖能力，为光伏、半导体材料研发提供高效、精准的测试解决方案，助力科研与产业突破技术瓶颈。

（一）原理

电致发光（Electroluminescence，简称 EL）是一种将电能直接转换为光能的物理现象，其原理基于半导体材料的特性和电子与空穴的复合过程。

技术特点

1、HiYield - EL支持 300–1700nm 宽光谱范围，兼容硅基、钙钛矿、III-V 族化合物（如 GaN、InGaN）等多种材料体系。采用高灵敏度制冷型探测器，显著提升近红外波段（800–1700nm）的 EL 信号检测能力。

2、集成自动化电流 - 电压（I-V）控制模块，支持 0.1mA–1A 宽范围电流输入，适配实验室及产线级测试需求。配备 AI 辅助分析软件，一键生成 EL 光谱、外量子效率（EQE）、内量子效率（IQE）曲线及器件能带结构分析报告。模块化光路结构，支持快速更换滤光片、光栅等组件，适应多场景测试需求。

3、测试参数全面，可以得到量子效率 EQE。支持气体氛围、器件不封装转移测试、手套箱等环境的测试。全面参数的器件老化测试。可测量外量子效率（EQE）、电流效率、功率效率等。能够获取电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等参数。还可得到光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等数据。

可分析 CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK - 1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等。能够生成电压 V - 时间曲线、电流密度 J - 时间曲线、电流效率 LE - 时间曲线、功率效率 PE 时间曲线、色度 - 时间曲线等。