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超弱近红外区域的测量 分光辐射计 SR-NIR
2025年03月05日 09:03
来源：玉崎科学仪器（深圳）有限公司
关于本产品
■ 概述
近年来，特别是在显示器和照明市场，对“近红外”测量的需求越来越大。 此外，没有能够轻松准确地测量这一点的测量仪器。 在这种情况下，我们以 SR 系列光谱辐射计中培养的技术为基础开发了“近红外光谱辐射计 SR-NIR”。本产品可与 SR 系列光谱辐射仪结合使用，以测量 380 nm ~ 1030 nm 的光谱辐射度。■ 特点
・可以测量从 FPD 发出微弱光的近红外区域。・高精度测量近红外区域 （600~1,030nm） 的光谱分布・与我们的 SR 系列分光辐射计结合使用，可以在可见光 ~ 近红外 （380 ~ 1030 nm） 范围内进行光谱分布测量。■ 主要用途
・在近红外区域观察各种 FPD 的输出・观察 Ne 和 Ar 的发射线输出・光学薄膜等的近红外透射特性的评估・其他光源的近红外光谱测量免责声明
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