简析光谱测厚仪概念及性能优势

　　XTU系列光谱测厚仪，采用下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型.该系列仪器适用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

　　光谱测厚仪概念：凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

　　性能优势：

　　下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

　　无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

　　微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

　　率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

　　精密微型滑轨：快速精准定位样品。

　　EFP*算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

　　应用领域：

　　钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB;

　　汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测;

　　卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)电镀液的金属阳离子检测。

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