techno 拓普康 SR‑5100 二维光谱辐射计全新发布

techno 拓普康推出 SR‑5100 二维光谱辐射计，该设备将单点分光测量升级为全域面成像光谱检测，可一次性获取被测面每一个像素点的光谱、亮度、色度数据，为光学材料、显示器件、光源产品提供非接触、非破坏性的测试方案，适配研发实验室与产线品质检测场景。

SR‑5100 搭载 500 万像素成像传感器，有效像素 2448×2048，波长测量区间 380‑780nm，波长分辨率可达 1nm，波长精度 ±0.5nm；亮度测量量程 0.5‑170 亿 cd/m²，兼顾低亮度与超高亮度样品测试，亮度线性度控制在 ±2% 以内，色度具备可溯源校准体系，保障测试数据的一致性トプコンテ...。设备支持分光模式与 XYZ 滤片模式，可按需切换精度与测试速度；可搭配标准、广角、望远、显微多种镜头，满足大面域、微小器件等不同被测对象；标配分析软件与 SDK 接口，测量数据可导出用于后期复盘分析。

不同于传统单点光谱设备只能采集局部点位，SR‑5100 能够完成整个被测区域二维分布检测，可识别样品局部色差、亮度不均、光谱偏移等问题，减少多点反复采样带来的时间消耗。仪器采用非接触检测方式，不会对发光器件、光学膜材造成损伤，适合样品反复测试验证。

在实际应用方面，该款仪器可用于 LCD、OLED、Mini/Micro‑LED 显示面板，完成亮度、色度、光谱均匀性评估；可检测 LED、OLED 照明灯具发光面分布；也用于汽车仪表盘、车载内外灯光光学性能检测。同时适用于光学薄膜、涂层材料的分光透射、反射特性测试，也可支撑激光器件、量子点材料的实验室研发评价。