新品上市｜卓立汉光 Omni-500S 光谱仪，小升级解锁光谱分析新高度

做光谱分析的您，是不是也常被这些难题困住？谱线展宽模糊，无法区分波长极近的信号；杂散光干扰严重，微弱信号根本测不到；成像变形失真，定量分析误差居高不下……这些问题的核心瓶颈，正是光谱仪难以规避的光学像差。

深耕光谱领域20余载的卓立汉光，带着全新解决方案来了 ——Omni-500S系列500mm焦距影像校正光谱仪新品上市，以多项针对性升级，用“小改动”实现性能的 “大跨越”，重新定义光谱分析的精度上限。

20多年技术沉淀

每一步都在创新突破

从第一款国产通用型三光栅光谱仪，到全焦面影像校正光谱仪的迭代，卓立汉光始终走在国产光谱技术的创新道路上：

2000 年，公司首*通用型三光栅光谱仪实现量产。

2005 年，推出 Omni-λ 谱王系列，同步研发双级联、三级联光谱仪。

2012 年，Omni-λ-i 影像谱王系列问世，性能接轨国际高*产品。

2015 年，第二代影像谱王发布，双入口结构进一步提升应用性能。

2024-2025 年，陆续推出 HiperS-320i、Omni-300S、Omni-750S 系列，影像质量与分辨率实现跨越式提升。

2026 年，Omni-S 系列再添新成员，Omni-500S 影像校正光谱仪正式亮相，为光谱分析带来全新可能。

七大核心升级

直击光谱分析核心痛点

1. 多曲面影像校正技术，攻克像差行业难题

作为本次升级的核心亮点，Omni-500S 搭载的多曲面影像校正技术，可有效校正像散、彗差等多种光学像差，全面优化系统分辨率、对比度与信噪比。

对比实验显示，经校正后的谱线更窄更锐利，半高全宽（FWHM）显著降低，可轻松分辨波长差异更小的光谱细节；光纤束成像清晰无拖尾，从根源上降低定量分析的误差。

2. 一体化硬模铸造机身，稳定性拉满

仪器箱体采用硬模铸造一体成型工艺，抗拉强度、屈服强度等机械性能全面升级，可极大提升光谱仪的长期运行稳定性，哪怕在复杂的实验与工业环境中，也能保持性能稳定不漂移。

3. 光路与结构双优化，效率与便利性双提升

优化后的光路设计，让仪器收光效率提升15%，哪怕是极微弱的光谱信号，也能实现精准捕捉；

轻量化结构设计让整机减重约10%，安装、移动更灵活，大幅提升实验室场景的使用便利性。

4. 专属杂散光抑制设计，保障光谱纯净度

针对传统光谱仪紫外波段光栅多次衍射产生的杂散光难题，Omni-500S采用非对称光路结构，结合专属光路优化设计，彻*消除该类杂散光，大幅提升系统信噪比，保证输出光谱的纯净度，让弱信号探测不再困难。

5. 专*多光栅自动对焦技术，全波段性能在线

仪器搭载拥有自主发明专*（专*号：ZL 202310878354.5）的自动对焦系统，可独立精准控制各光栅的焦距，切换光栅时自动匹配最佳性能，同时适配多种不同焦深的相机，让光谱仪在全波段范围都能保持最佳的分辨率与成像质量，完*满足复杂的多场景实验需求。

6. 全场景适配能力，一台覆盖多种测试需求

仪器的出入口可灵活适配多种规格的光源、探测器、相机、光纤等外部设备，同时配套丰富的可选配件，无需额外定制改造，一台设备即可覆盖多种测试场景，大幅降低用户的配套成本。

7. 智能化配套软件，让光谱测试简单高效

配套软件搭载智能化分析与控制平台，具备*大的智能数据处理能力，支持实时谱图显示、数据拟合分析、多谱图对比、测试数据自动保存，界面友好、操作简单，大幅简化测试流程，降低仪器使用门槛，让新手也能快速上手完成专业光谱测试。

全领域覆盖解锁多元应用场景

凭借全面升级的性能与灵活的适配能力，Omni-500S光谱仪可广泛覆盖科研与工业的多元场景：

• 科研领域：拉曼光谱、荧光光谱、等离子体光谱测量、角分辨光谱、多通道光谱检测、微生物光谱识别等

• 工业领域：透射 / 反射光谱测量、镀膜膜厚监测、燃烧诊断、激光诱导击穿光谱、光电探测、可调光源配套测试等

从第一款光谱仪到全新 Omni-500S 系列，卓立汉光始终以研发创新为核心，深耕光谱技术领域，不断突破国产高*科学仪器的性能边界。未来，卓立汉光也将持续以技术创新为驱动力，为广大科研与工业用户提供更优质、更可靠的光谱仪器解决方案，助力中国高*科学仪器的自主可控与创新发展。